항목 5.3.2, 5.4.10, V.1.4 그림 V.3 무딘 프로브 통신 테스트 프로브 IEC 62368-1
| Standard: | IEC 62368-1 | Clause: | 5.3.2, 5.4.10, V.1.4와 형태 V.3 |
| Baffle diameter of the handle: | 50±0.2 밀리미터 | Probe diameter: | Φ12+0.05 0 밀리미터 |
| End radius: | R6+0.05 0 밀리미터 | Probe length: | 80±0.2 밀리미터 |
| High Light: | 항목 5.3.2 무딘 프로브,IEC 62368-1 무딘 프로브,그림 V.3 통신 테스트 프로브 |
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IEC 62368-1 5.3.2, 5.4.10, V.1.4 및 그림 V.3 무딘 프로브
제품 정보:
표준: 테스트 프로브는 IEC 62368-1:2018 절 5.3.2, 5.4.10, V.1.4 및 그림 V.3, IEC60950 그림 2C, IEC60065 그림 B1, IEC62151 그림 3의 표준 요구 사항에 따라 설계 및 제조되었습니다. , UL6500 그림 B.1 등
신청: 정보 기술 장비의 TNV 회로의 노출된 부분에 사용되어 충분한 보호 기능이 있는지 확인합니다.
테스트 샘플: 정보 기술 장비.
기능: 나일론 핸들 + 스테인리스 스틸 프로브.
기술적인 매개변수:
| 기준 | IEC 62368-1 |
| 절 | 5.3.2, 5.4.10, V.1.4 및 그림 V.3 |
| 프로브 길이 | 80±0.2mm |
| 끝 반경 | R6+0.05 0mm |
| 프로브 직경 | Φ12+0.05 0mm |
| 핸들의 배플 직경 | 50±0.2mm |
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