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IEC 60529 IP5X/IP6X 워크인 모래 및 먼지 시험실 24 CBM EV 충전 스테이션

물 진입 시험 장비
May 16, 2024
Category Connection: 환경 테스트 챔버
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태그:
#ess 시험 약실 #환경 가장 약실 #일정 온도 챔버
Brief: Discover the IEC 60529 IP5X/IP6X 24 CBM Walk-In Sand And Dust Test Room, designed for testing electrical and electronic products, EV charging stations, and seals in harsh sand and dust environments. This ground-embedded test chamber features advanced dust circulation, temperature control, and robust construction for accurate and reliable results.
Related Product Features:
  • Walk-in structure with spliced warehouse boards and four corner funnels for efficient dust collection.
  • Rotating sand and dust feeding device at the air inlet for uniform dust distribution.
  • Heating and dehumidification system in the circulating air duct for precise environmental control.
  • Double-layer doors with observation windows and aging-resistant silicone rubber seals.
  • Constructed with high-strength double-sided galvanized steel and SUS304 stainless steel inner walls.
  • Intelligent controller with touch screen for easy temperature, humidity, and time management.
  • Dust drying system to maintain optimal dust concentration and test accuracy.
  • Vacuum system with electronic differential pressure sensor for controlled test conditions.
자주 묻는 질문:
  • What standards does this sand and dust test chamber comply with?
    The chamber complies with IEC60529:2013 standards for IP5X and IP6X protection levels, ensuring reliable testing for electrical and electronic products in sand and dust environments.
  • What is the maximum sample size that can be tested in this chamber?
    The chamber can accommodate samples up to 2000mm (W) x 1000mm (D) x 3000mm (H), making it suitable for large items like EV charging stations and energy storage cabinets.
  • How is the dust concentration controlled during testing?
    The chamber features a dust drying system and a rotating feeding device to maintain a consistent dust concentration of 2-4kg/m³, adjustable to meet specific test requirements.
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