E27 램프 캡 계측기는 부수적인 접촉 계측기를 방지하러 아니오 가러 갑니다

E27 램프 캡 계측기는 부수적인 접촉 계측기를 방지하러 아니오 가러 갑니다

제품 개관 :

E27 램프 캡 계측기는 일본 DC53 물질, 로크웰 경도 58-60으로 만들어지고 ', E27 램프 캡 계측기가 E27 스크루 램프 캡의 전구의 품질 검사를 위해 적당한 IEC 60061-3의 기준에 따릅니다. (스레드 파형과 같은) 그것의 구조와 관련된 파형은 컴퓨터로 산정되고 최적화되고, 그리고 나서 컴퓨터 기계 공구의 처리를 통과했습니다, 높은 정밀도와 미가 달성되었습니다. 물질은 강한 앤티-러스트 능력과 높은 초경합금으로 만들어집니다.

E27 램프 캡 통행 게이지 (7006-27B-1)
목적을 가지세요 : E27 끝난 램프에 램프 캡 나사산의 최대 크기와 T1min의 최소 값을 조사합니다.
점검 : 끝난 램프 위의 램프 캡이 완전히 계측기에 나삽될 때, 램프 캡의 중심 컨택트는 같은 평면에 있어야 합니다

E27 램프는 어떤 통행 게이지 (7006-28A-1)도 완성하지 않습니다

목적을 가지세요 : 끝난 램프에 E27 램프 캡 나사산의 최소 외경 (차원 Ｄ) 조사합니다.
점검 : 계측기가 그것의 자체 무게에 의해 램프 캡의 스레드에 설정될 때, 끝난 램프 위의 램프 캡의 중심 컨택트는 계측기의 Ｘ 표면으로부터 돌출하여서는 안됩니다.

E27S1 램프는 어떤 통행 게이지 (7006-27C-1)도 완성하지 않습니다

목적을 가지세요 : S1의 최대 크기와 끝난 램프 E27 램프 캡의 S1의 최저치를 시험합니다.
점검 : 완성품의 램프 캡이 완전히 계측기에 삽입될 때, 잠수부에서 Ｗ 옆은 Ｘ 옆으로 같은 평면에 있거나, Ｘ 옆으로부터 돌출하지만, Ｙ 옆으로부터 돌출하여서는 안됩니다.

E27 램프 캡 접촉 만들고 있는 계측기 (7006-50-1)
그것은 양초 형상 램프의 점검에 적용할 수 있, 둥근 램프 일 뿐입니다, 세대 관형 전등과 작은 모양 램프가 IEC60061-3에 나타난 E27 캡으로 설비했습니다.
목적을 가지세요 : 적절한 램프 홀더에서 램프의 접촉 성능의 규모를 시험합니다.
점검 : Ｗ 표면이 램프가 계측기에 삽입될 때 Ｖ 표면으로 같은 평면에 있거나 Ｖ 표면으로부터 돌출할 수 있다면 램프와 램프 홀더의 형태는 자격을 얻는 것으로 고려할 수 있습니다.

E27 램프 캡은 부수적인 접촉 계측기 51*39 (7006-51-2)를 방지합니다

목적을 가지세요 : 부수적인 접촉을 방지하기 위해 E27/51×39 램프 캡을 끝난 램프에서 실험합니다.
점검 : 만약 Ｗ 표면이 램프 캡이 완전히 계측기에 삽입될 때 Ｖ 표면으로부터 돌출하지 않으면, 램프의 형태가 부수적인 접촉을 방지한다고 자격을 얻는다는 것이 고려할 수 있습니다.

E27 램프 캡은 부수적인 접촉 계측기 (7006-51A-2)를 방지합니다

목적을 가지세요 : 삽입될 때 E27 램프 캡의 반대 우연한 접촉 성능을 끝난 램프에서 실험합니다.
점검 : 램프가 Ｗ 표면이 Ｖ 표면으로부터 돌출하지 않으면, 완전히 계측기에 삽입될 때, 그것은 램프의 형상이 부수적인 접촉을 방지하는 성능에 적합하게 되는 것이 간주될 수 있습니다.

E27 램프 캡 토크 시험 계측기 (국제전기기술위원회 60968 Fig2)

목적을 가지세요 : 램프 캡의 의학적 장점을 시험합니다.
사용하는 방법 : 천천히 토크를 적용하고 제로로부터 3Nm에 적용된 토크를 점진적으로 증가시키세요.

E27 램프에 대한 시누오 게이지 목록은 다음을 완성합니다

램프 계측기, 플러그와 콘센트 계측기, 기타 등등을 포함하여 시누오는 계측기의 장대한 범위를 공급할 수 있습니다. 우리의 계측기는 고급 품질 강형, 부식 방지, 내마모와 고정밀도로 만들어지며, 그것이 우리의 계측기가 제 3자 보정을 통과한다는 것을 보증할 수 있습니다.